O Professor William Schwartz, coordenador do Smart Sense Laboratory, foi recentemente indicado como Editor Associado do IEEE  Transações de Informações Forenses e de Segurança (TIFS). A revista científica, publicação do Instituto de Engenheiros Elétricos e Eletrônicos (IEEE), é publicada mensalmente desde 2013 e seu fator de impacto é de 5.824, com taxa de aceitação em torno de 23% nos últimos 12 meses.

O IEEE TIFS abrange as ciências, tecnologias e aplicativos relacionados a informações forenses, segurança da informação, biometria, vigilância e aplicações que incorporam esses recursos. O conselho editorial é formado por pesquisadores de mais de 20 países e 5 continentes. Patrizio Campisi, professor da Universidade de Roma TRE, é o editor-chefe.

O IEEE TIFS tem como co-patrocinadores técnicos a IEEE Communications Society, a IEEE Computational Intelligence Society, a IEEE Computer Society, a IEEE Engineering em Medicine and Biology Society e a IEEE Information Theory Society. A edição recente do IEEE TIFS está disponível aqui.

O professor

Professor Associado da Universidade Federal de Minas Gerais (UFMG), William Schwartz é doutor em Ciência da Computação pela Universidade de Maryland. Ele passou um ano no Instituto de Computação da Universidade de Campinas como Pesquisador de Pós-Doutorado. É autor de mais de 150 artigos científicos sobre Visão Computacional, Vigilância Inteligente, Forense e Biometria.